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超声波容器探伤仪斜探头校准

发布时间:2020-03-26人气:2

超声波容器探伤仪斜探头校准

为了方便操作者校准斜探头角度、前沿、零点及材料声速,仪器提供了斜探头校准功能,利用此功能可方便的完成斜探头的校准工作。斜探头校准功能位于自校准功能菜单中。斜探头的自动校准,本仪器提供了两种方法,第一种是基于CSK-1A试块的校准。第二种是基于CSK-IIIA试块的校准,实际上第二种方法应该叫两孔法校准,不一定要用CSK-IIIA试块,只要有两个直径相同,深度不同的孔,都可以校准。

1. 基于CSK-1A试块的校准(一键自动校准法(回车键))

   以标配的斜探头为例,它是一个频率5MHz,晶片为8mm×9mm,角度为K2的单晶探头。可以利用CSK-IA试块对其进行校准。校准前无需输入任何参数。

1). 在校准类型选项中选择CSK-IA。

2)在斜探头校准选择下按下回车键,探伤仪将自动调节闸门为双闸门,自动放置闸门位置,自动设置探测范围。将探头放在圆心上,来回移动,找到R100的最高波,同时保证R50的波高于15%,按下回车键,材料声速校准完毕,再按下回车键,探头零点校准完毕。


3)再按下回车键,显示探头前沿的估计值,此值需要读出探头到圆心刻度(或用刻度尺测量后),使用拨轮输入。

4)再按下回车键,显示K值回波提示,将探头放置在试块另一端,来回移动,找到最高波,然后按下回车键,K值校准完毕。

整个校准过程无需手动调节探测范围和闸门,只需找到最高波,按回车键确认即可。在校准确认之前,按<冻结>键可以取消校准过程。

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